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· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。
· 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。· 采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。
· 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。· 采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。
