項(xiàng)目 | 內(nèi)容 | |
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分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) |
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加速電壓 | 0.3 kV ~ 20 kV | |
放大倍率 | 6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (顯示倍率) |
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低真空模式 | 真空范圍:6 ~ 100 Pa | |
電子槍 | 預(yù)對(duì)中鎢燈絲 | |
樣品臺(tái) | 3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° |
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最大樣品尺寸 | 直徑80 mm | |
最大樣品高度 | 40 mm | |
尺寸 | 主機(jī):450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm |
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探測(cè)器選配 |
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- *3
- 主機(jī)與供電單元組合使用
- *
- PC、桌子、機(jī)械泵、顯示器需要本地采購(gòu)
緊湊型設(shè)計(jì),分辨率為4 nm*1
通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器,背散射探測(cè)器,低真空探測(cè)器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
操作簡(jiǎn)捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2
*1設(shè)置在桌面時(shí),分離主機(jī)和電源箱*2選配