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      日立分析儀器(上海)有限公司

        分析儀器,熱分析儀器,粘彈性測(cè)定儀器,發(fā)光分光分析儀器(ICP),X射線熒光分...

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      掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000
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      品牌: 日立/Hitachi
      單價(jià): 面議
      最小起訂量:
      供貨總量:
      發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
      有效期至: 長(zhǎng)期有效
      最后更新: 2019-01-15 09:20
        詢價(jià)
      詳細(xì)信息
      • 型號(hào):FlexSEM 1000
      • 分辨率:4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)
      • 放大倍率:6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (顯示倍率)
      • 加速電壓(KV):0.3 kV ~ 20
      • 樣品臺(tái)尺寸(mm ):直徑80 mm
      • 探測(cè)電流:
      項(xiàng)目 內(nèi)容
      分解能*3 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式)
      15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式)
      5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)
      加速電壓 0.3 kV ~ 20 kV
      放大倍率 6× ~ 300,000× (底片倍率)
      16× ~ 800,000× (顯示倍率)
      低真空模式 真空范圍:6 ~ 100 Pa
      電子槍 預(yù)對(duì)中鎢燈絲
      樣品臺(tái) 3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)
      X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm
      R:360°, T:-15° ~ +90°
      最大樣品尺寸 直徑80 mm
      最大樣品高度 40 mm
      尺寸 主機(jī):450(W) x 640(D) x 670(H) mm
      供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm
      探測(cè)器選配
      • 高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器(UVD)
      • 能量分散型X線探測(cè)器(EDS)
      *3
      主機(jī)與供電單元組合使用
      *
      PC、桌子、機(jī)械泵、顯示器需要本地采購(gòu)

      緊湊型設(shè)計(jì),分辨率為4 nm*1
      通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器,背散射探測(cè)器,低真空探測(cè)器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
      操作簡(jiǎn)捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
      新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
      大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2
      *1設(shè)置在桌面時(shí),分離主機(jī)和電源箱*2選配
      詢價(jià)單
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